Skip to Content
Toggle navigation
Inicio
Browse
Browse by Collection
Browse by Project Center
Browse Exhibits
About
About Us
Help
Iniciar sesión
Explore, Discover, Share
Ir
Advanced search
Buscar
Borrar filtros
Filtrado por:
Editor
Shaker Verlag
Eliminar la restricciónEditor: Shaker Verlag
1
entrada encontrado
Ordenar por relevance
relevance
date uploaded ▼
date uploaded ▲
date modified ▼
date modified ▲
El número de resultados a mostrar por página
10 por página
10
por página
20
por página
50
por página
100
por página
Ver Resultados por:
Lista
Gallery
Masonry
Slideshow
Download search results to .CSV file
Resultados de la búsqueda
Add to Category
Remove From Category
Comparison of surface texture measurement systems
Palabra clave:
Surface metrology
,
Texture
,
Roughness
,
Uncertainty
,
Height difference maps
,
Multiscale geometric analyses
,
Area-scale
, and
Sequential topographic measurements
Creador:
Brown, Christopher A.
,
Kummailil, John
,
Bergstrom, Torbjorn S.
,
Hamel, Rebecca A.
, and
Gray, Amy R.
Editor:
Shaker Verlag
Fecha de Creacion:
2004
Resource Type:
Conference Proceeding
Toggle facets
Limite su búsqueda
Collections
WPI Faculty Research and Scholarship
1
Year
2004
1
Creador
Bergstrom, Torbjorn S.
1
Brown, Christopher A.
1
Gray, Amy R.
1
Hamel, Rebecca A.
1
Kummailil, John
1
Editor
Shaker Verlag
[remove]
1
Tipo de recurso
Conference Proceeding
1