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Joule heat effects on reliability of RF MEMS switches
Palabra clave:
MEMS switches
,
thermal effects
, and
RF switches
Creador:
Machate, Malgorzata S
Advisor:
Pryputniewicz, Ryszard J.
Editor:
Worcester Polytechnic Institute
Fecha de Creacion:
2003-10-07
Resource Type:
Thesis
Degree:
MS
Unit (Department):
Mechanical Engineering
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Collections
Masters Theses
1
Year
2003
1
Creador
Machate, Malgorzata S
1
Advisor
Pryputniewicz, Ryszard J.
1
Contributor
Furlong, Cosme
1
Hagglund, Raymond R.
1
Pryputniewicz, Ryszard J.
1
Rosato, David
1
Unit (Department)
Mechanical Engineering
1
Editor
Worcester Polytechnic Institute
1
Tipo de recurso
Thesis
[remove]
1