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Atomic Force Microscopy: Lateral-Force Calibration and Force-Curve Analysis
Palabra clave:
analysis
,
Calibration
,
curve fitting
,
Atomic Force Microscopy
,
friction
,
force curves
, and
lateral force microscopy
Creador:
Anderson, Evan V
Advisor:
Burnham, Nancy A.
and
Camesano, Terri Anne
Editor:
Worcester Polytechnic Institute
Fecha de Creacion:
2012-04-26
Resource Type:
Thesis
Degree:
MS
Unit (Department):
Physics
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Collections
Masters Theses
1
Year
2012
1
Creador
Anderson, Evan V
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1
Advisor
Burnham, Nancy A.
1
Camesano, Terri Anne
1
Contributor
Burnham, Nancy A.
1
Camesano, Terri Anne
1
Tao, Mingjiang
1
Wen, Qi
1
Unit (Department)
Physics
1
Editor
Worcester Polytechnic Institute
1
Tipo de recurso
Thesis
1
